X線光電子分光法による積層構造の深さ方向組成分析 ーVersaProbeⅢの機能紹介ー

プログラム
ナンバー
電-1-6
報告年度 2022年度
部会 電気電子工学部会
題目 X線光電子分光法による積層構造の深さ方向組成分析 ーVersaProbeⅢの機能紹介ー
著者名 烏山恭維、池田正則
キーワード からすやまきょうすけ、いけだまさのり、X線光電子分光法、表面分析
講演要旨 PDF