交流表面光電圧法によるp型Siの少数キャリア寿命評価

プログラム
ナンバー
電-1-2
報告年度 2019年度
部会 電気電子工学部会
題目 交流表面光電圧法によるp型Siの少数キャリア寿命評価
著者名 池田正則、山下滉介、高野諒、本多優作
キーワード いけだまさのり、やましたこうすけ、たかのりょう、ほんだゆうさく、AC SPV、SI、少数キャリア寿命
講演要旨 PDF